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磁粉檢測時,使用A型或C型靈敏度試片,應將試片無人工缺陷的面朝外。
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JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:標準試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。
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使用靈敏度試片的目的之一是要了解檢測面上磁場的方向和強度大小。
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