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XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分別代表X射線衍射分析、()、()、電子探針分析和差熱分析分析方法。
答案:
掃描電子顯微分析;透射電子顯微分析
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在樣品臺轉動的工作模式下,X射線衍射儀探頭轉動的角速度是樣品轉動角速度的二倍。
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放大倍數(shù)是判斷顯微鏡性能的根本指標。
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