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CSK-ⅠA試塊上φ50 、φ44、φ40 三孔的臺階,可用來測定斜探頭的分辨力。
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CSⅢ試塊是一種適用于檢測面為曲面的鍛件檢測標準試塊。
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用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的鋼板時,應采用CB-Ⅱ標準試塊對檢測系統(tǒng)進行 校準。
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