問答題

【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述Defect的來源?

答案: ① 素材本身:包括wafer,氣體,純水,化學(xué)藥品。
② 外在環(huán)境:包含潔凈室,傳送系統(tǒng)與...
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答案: Wafer上存在的有形污染與不完美,包括
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【簡(jiǎn)答題】YE工程師的主要工作內(nèi)容?

答案: ① 負(fù)責(zé)生產(chǎn)過程中異常缺陷事故的追查分析及改善工作的調(diào)查與推動(dòng)。
② 評(píng)估并建立各項(xiàng)缺陷監(jiān)...
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