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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】什么是數(shù)字電路的完全測(cè)試和功能測(cè)試？
答案：
完全測(cè)試是對(duì)芯片進(jìn)行全部狀態(tài)和功能的測(cè)試，要考慮集成電路的所有的可能狀態(tài)和功能。
功能測(cè)試是對(duì)在集成電路設(shè)計(jì)之...
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答案：
測(cè)試生成：是指產(chǎn)生驗(yàn)證電路的一組測(cè)試碼又稱(chēng)為測(cè)試矢量
測(cè)試驗(yàn)證：指一個(gè)給定測(cè)試集合的有效性測(cè)度，通常是通過(guò)故障...
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】在高頻和超高速微組裝設(shè)計(jì)過(guò)程中必須要考慮哪些問(wèn)題？
答案：
1、為得到反射信號(hào)傳輸，阻抗匹配十分重要
2、連接線的自電感和線間耦合在寄生參數(shù)中占主要地位
3、高...
2、連接線的自電感和線間耦合在寄生參數(shù)中占主要地位
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