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單項(xiàng)選擇題

X射線(xiàn)熒光分析法所應(yīng)用的元素固有的熒光X射線(xiàn)波長(zhǎng)為（）

A.全譜段波長(zhǎng)
B.0.001～10nm
C.0.01～120nm
D.0.1～800nm

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單項(xiàng)選擇題

對(duì)鍍銀層厚度測(cè)量方法存在質(zhì)疑時(shí)，可使用以下哪種方法進(jìn)行驗(yàn)證（）

A.庫(kù)倫法
B.X射線(xiàn)熒光法
C.高倍顯微鏡法
D.稱(chēng)重法

單項(xiàng)選擇題

隔離開(kāi)關(guān)鍍銀層厚度檢測(cè)使用X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀，通過(guò)從被檢件上反射的二次X射線(xiàn)強(qiáng)度測(cè)量鍍銀層厚度，檢測(cè)范圍可達(dá)（）µm。

A.0.1-5
B.0.01-5
C.0.1-50
D.0.01-50

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