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判斷題

磁粉探傷只適用于探測(cè)鐵磁性材料和工件的缺陷。

答案：正確

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超聲波探傷特別適用于探測(cè)體積型缺陷。

答案：錯(cuò)誤

射線照像探傷特別適用于探測(cè)體積型缺陷。

答案：正確