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【簡答題】例舉并描述硅片揀選測試中的三種典型電學(xué)測試。
答案:
硅片揀選測試中的三種典型電學(xué)測試:
(1)DC測試:第一電學(xué)測試是確保探針和壓焊點(diǎn)之間良好電學(xué)接觸的連接性檢查...
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【簡答題】例舉在線參數(shù)測試的4個(gè)主要子系統(tǒng)。
答案:
在線參數(shù)測試的4個(gè)主要子系統(tǒng)為:
(1)探針卡接口:是自動(dòng)測試儀與待測器件之間的接口。
(2)硅片定...
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【簡答題】什么是IC可靠性?什么是老化測試?
答案:
IC可靠性是指器件在其預(yù)期壽命內(nèi),在其使用環(huán)境中正常工作的概率,換句話說就是集成電路能正常使用多長時(shí)間。老化測試在很苛刻...
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