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集成電路技術(shù)綜合練習(xí)多項選擇題每日一練(2020.06.09)

多項選擇題
以下問題描述中，哪些有可能通過可測性設(shè)計發(fā)現(xiàn)（）。
A.制造誤差
B.性能問題
C.制造故障
D.功能未滿足顧客的需求
多項選擇題
以下哪些為微處理器IP必須具備的功能（）。
A.Fetch
B.Decode
C.Execute
D.Encode
E.Writeback
F.Compile
多項選擇題
在以下關(guān)于內(nèi)建自測試法的描述中，哪些是正確的（）。
A.由于內(nèi)嵌測試模式發(fā)生器，不需要額外生成測試模式
B.由于只輸出GO/NOGO，故障分析很困難
C.由于內(nèi)嵌測試輸出評估部，不需要高價測試設(shè)備，可降低成本
D.不可用于Burn-In測試
多項選擇題
SOC設(shè)計采用基于IP分離的可測性設(shè)計，具體的實現(xiàn)手段有：（）。
A.Distributed BIST
B.Direct Access
C.Test Bus
D.Boundary Scan
多項選擇題
以下時間因素中，會對電路最終的工作頻率產(chǎn)生影響的有：（）。
A.clock skew
B.組合電路的最大延遲
C.FF的Setup時間
D.FF的Hold時間

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